掃描電子顯微鏡的圖像偽影如何識(shí)別和消除
在掃描電子顯微鏡(SEM)?成像中,圖像偽影(Artifacts)是一些不真實(shí)的圖像特征,通常由儀器、樣品準(zhǔn)備或操作方法引起。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?成像中,圖像偽影(Artifacts)是一些不真實(shí)的圖像特征,通常由儀器、樣品準(zhǔn)備或操作方法引起。
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在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,電子束散斑效應(yīng)(Electron Beam Speckle Effect)是指電子束與樣品表面相互作用時(shí)產(chǎn)生的一種隨機(jī)干涉圖樣。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?成像中,邊緣效應(yīng)(Edge Effect)是指當(dāng)電子束掃描樣品邊緣或薄膜時(shí),圖像中出現(xiàn)的異常信號(hào)或偽影。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-13
提高掃描電子顯微鏡(SEM)?的掃描速度可以通過(guò)以下幾個(gè)方法實(shí)現(xiàn):
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-13
調(diào)節(jié)掃描電子顯微鏡(SEM)?的對(duì)比度是優(yōu)化圖像質(zhì)量、突出樣品特征的關(guān)鍵步驟。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-12
多電壓成像(multi-voltage imaging)是掃描電子顯微鏡(SEM)?中一種技術(shù),通過(guò)在不同的加速電壓下對(duì)同一位置進(jìn)行成像,來(lái)獲得更多的樣品信息。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-08-12
掃描電子顯微鏡(SEM)的放大倍率通過(guò)調(diào)整電子束的掃描范圍和成像條件來(lái)實(shí)現(xiàn)。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-09
提高掃描電子顯微鏡?(SEM)的分辨率是許多高精度顯微觀察任務(wù)中的關(guān)鍵目標(biāo)。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-08-09