掃描電鏡圖像為何可能會出現(xiàn)條紋或拖影？

掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋或拖影（smearing、streaks、drag）現(xiàn)象，通常反映了電子束掃描、樣品狀態(tài)或系統(tǒng)穩(wěn)定性的問題。

如何進(jìn)行 SEM 圖像的定量測量？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中進(jìn)行圖像的定量測量，關(guān)鍵在于圖像已正確標(biāo)定、設(shè)備設(shè)置精確，以及測量方法規(guī)范。

在掃描電鏡（SEM）成像中，加速電壓的選擇會直接影響圖像的分辨率、對比度、表面靈敏度和樣品損傷程度。

掃描電鏡（SEM）的電子束聚焦與掃描是成像的核心機(jī)制，整個(gè)過程涉及電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)和掃描線圈等部件，目的是將電子束精準(zhǔn)地聚焦成細(xì)小的束斑，并以系統(tǒng)控制的方式逐點(diǎn)掃描樣品表面。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，調(diào)整焦距（Focus）是獲得清晰圖像的關(guān)鍵步驟。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否失真，可以從以下幾個(gè)關(guān)鍵方面入手進(jìn)行識別和判斷：

掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋（stripes, banding）或顆粒感（grainy texture, noise），可能源于以下幾類問題，分別涉及設(shè)備、樣品、成像參數(shù)和環(huán)境因素。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像質(zhì)量對使用環(huán)境高度敏感。