樣品桿的材質(zhì)選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有什么影響?
樣品桿的材質(zhì)選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有重要影響,特別是在掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)等儀器中進(jìn)行高精度分析時(shí)。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-10-14
樣品桿的材質(zhì)選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有重要影響,特別是在掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)等儀器中進(jìn)行高精度分析時(shí)。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-10-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,長(zhǎng)時(shí)間掃描是一種有效減少圖像偽影(artifacts)的方法。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-09-20
掃描電子顯微鏡(SEM)?是分析樣品斷裂面的強(qiáng)大工具,通過(guò)其高分辨率的成像能力,結(jié)合多種分析技術(shù),能夠詳細(xì)研究斷裂機(jī)制、材料的微觀結(jié)構(gòu)以及斷裂模式。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-09-18
多電壓成像(multi-voltage imaging)是掃描電子顯微鏡(SEM)?中一種技術(shù),通過(guò)在不同的加速電壓下對(duì)同一位置進(jìn)行成像,來(lái)獲得更多的樣品信息。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-08-12
處理和觀察非導(dǎo)電樣品是臺(tái)式掃描電鏡(SEM)?中的一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題,因?yàn)閭鹘y(tǒng)的SEM通常需要樣品具有一定的導(dǎo)電性才能獲得良好的圖像質(zhì)量。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-08-06
在臺(tái)式掃描電鏡?中觀察高溫樣品是一項(xiàng)挑戰(zhàn)性的任務(wù),需要特定的樣品支持和操作技術(shù)。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-08-06
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺(jué)證據(jù),幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性,這些特性的變化直接關(guān)聯(lián)到材料的光學(xué)和電物理性能。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-07-11
提高掃描電鏡清晰度的方法包括:
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-07-11