掃描電鏡應(yīng)用范圍介紹
日期:2022-12-30
掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn),使其應(yīng)用范圍十分廣泛。
掃描電子顯微鏡的主要應(yīng)用范圍:
(1)金屬、陶瓷、高分子、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、化工產(chǎn)品的顯微形貌觀察以及材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組織分析。
(2)各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性定量檢測。
(3)粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度測定。
(4)機(jī)械零件與工業(yè)產(chǎn)品的失效分析。
(5)鍍層厚度、成分與質(zhì)量測定。
(6)刑偵案件物證分析與鑒定。
(7)生物、醫(yī)學(xué)和農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域。
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作者:澤攸科技
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