掃描電鏡是用來做什么的?
日期:2023-04-03
掃描電鏡(SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,主要用于以下幾個方面。
提供高分辨率的表面形貌信息:SEM可以提供樣品表面的高分辨率圖像,可以觀察到樣品表面的微觀形貌,例如表面紋理、裂縫、孔洞等,以及各種微觀結(jié)構(gòu),例如顆粒、晶體、纖維等。
確定樣品表面的成分:通過結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)或其他化學(xué)分析技術(shù),SEM可以確定樣品表面的化學(xué)成分和元素組成,例如金屬合金、陶瓷、纖維素等。
觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)和形貌變化:通過SEM可以觀察樣品表面在不同條件下的形貌和結(jié)構(gòu)變化,例如樣品的裂紋、變形、磨損、氧化等,可以為材料科學(xué)研究和工程實踐提供有用的信息。
幫助進(jìn)行材料表面和界面的研究:SEM可幫助進(jìn)行材料表面和界面的研究,例如觀察納米材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶界等,還可以用于研究多相材料和復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)和分布。
SEM可以提供高分辨率的表面形貌信息和化學(xué)成分信息,幫助進(jìn)行材料的表征和分析。在材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)等領(lǐng)域中,SEM是一種重要的表征工具。
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡
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作者:澤攸科技