掃描電鏡（SEM）可以提供高倍率的放大能力，其放大倍數(shù)通常在幾百倍到數(shù)十萬(wàn)倍之間。實(shí)際的放大倍數(shù)取決于具體的SEM系統(tǒng)、樣品制備和檢測(cè)條件。

常見(jiàn)的SEM系統(tǒng)通常具有以下放大倍數(shù)范圍：

低放大倍數(shù)：通常從幾十倍到幾百倍，用于觀察樣品的整體形貌、表面結(jié)構(gòu)和粗糙度。

中等放大倍數(shù)：通常從幾百倍到幾千倍，用于更詳細(xì)地觀察樣品表面細(xì)節(jié)、微觀結(jié)構(gòu)和顆粒分布。

高放大倍數(shù)：通常從幾千倍到數(shù)萬(wàn)倍，用于觀察樣品的納米結(jié)構(gòu)、納米顆粒、微觀組織和斷面等。

需要注意的是，高倍率放大可能需要更高的電子束能量和更精細(xì)的樣品制備，以獲得清晰、高對(duì)比度的圖像。同時(shí)，放大倍數(shù)也取決于樣品的大小、形狀和表面特征。

值得一提的是，某些特殊類(lèi)型的掃描電鏡，如透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）和場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（Field-Emission Scanning Electron Microscope，F(xiàn)E-SEM），具有更高的分辨率和更大的放大倍數(shù)能力，可以達(dá)到數(shù)十萬(wàn)倍甚至百萬(wàn)倍的放大倍數(shù)。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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