如何通過(guò)透射電鏡樣品桿控制樣品的高度和位置?
日期:2023-08-14
透射電子顯微鏡(TEM)樣品桿是一個(gè)關(guān)鍵的部件,用于支持和定位樣品,以便在電子束穿透樣品時(shí)進(jìn)行觀(guān)察。通過(guò)調(diào)整樣品桿的高度和位置,可以確保樣品位于正確的位置,并且在TEM中能夠獲得清晰的圖像。下面是關(guān)于如何通過(guò)透射電鏡樣品桿控制樣品的高度和位置的一般步驟:
安全操作: 首先,請(qǐng)確保您已經(jīng)熟悉TEM的操作手冊(cè),并遵循適當(dāng)?shù)陌踩僮饕?guī)程。
裝載樣品: 將您要觀(guān)察的樣品制備成薄片,并使用細(xì)致的操作將其安裝在樣品網(wǎng)格上。樣品網(wǎng)格是一種特殊設(shè)計(jì)的網(wǎng)格,可支持樣品并允許電子束穿透。
進(jìn)入樣品室: 打開(kāi)TEM的樣品室,并將樣品網(wǎng)格插入樣品臺(tái)中。確保樣品網(wǎng)格插入的方向是正確的,以便在顯微鏡中觀(guān)察到所需的區(qū)域。
調(diào)整高度: 樣品桿通常具有可調(diào)節(jié)的高度機(jī)制,通過(guò)旋轉(zhuǎn)或移動(dòng)樣品桿,您可以將樣品移向或遠(yuǎn)離電子束路徑。使用微調(diào)裝置,慢慢調(diào)整樣品的高度,以確保樣品位于電子束的焦點(diǎn)平面。
對(duì)準(zhǔn)位置: 使用TEM中的控制器或操作面板,可以微調(diào)樣品的位置,確保樣品位于電子束的中心。您可以通過(guò)觀(guān)察電子束在樣品上的反射圖像來(lái)進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)。
對(duì)焦和調(diào)節(jié): 調(diào)整透射電子顯微鏡的對(duì)焦和參數(shù)設(shè)置,以獲得清晰的圖像。您可以在樣品上尋找感興趣的區(qū)域,并通過(guò)調(diào)整顯微鏡的參數(shù)來(lái)優(yōu)化圖像質(zhì)量。
記錄和分析: 一旦樣品被正確定位和調(diào)整,您可以開(kāi)始記錄和分析TEM圖像,以獲取有關(guān)樣品的詳細(xì)信息。
需要注意的是,TEM樣品的裝載和調(diào)整是精細(xì)而關(guān)鍵的過(guò)程,需要一定的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)。在操作之前,建議您熟悉TEM的操作手冊(cè),如果可能,尋求有經(jīng)驗(yàn)的操作員的指導(dǎo)。
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作者:澤攸科技