掃描電子顯微鏡SEM知識科普
日期:2021-04-22
掃描電子顯微鏡SEM知識科普,掃描電子顯微鏡SEM(scanning electron microscope)
掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等。
掃描電子顯微鏡SEM 機(jī)構(gòu)組成
掃描電子顯微鏡由三大部分組成:真空系統(tǒng),電子束系統(tǒng)以及成像系統(tǒng)。
掃描電子顯微鏡SEM 基本參數(shù)
放大率:通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到
場深:掃描電子顯微鏡SEM中,位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深,通常為幾納米厚,所以,SEM可以用于納米級樣品的三維成像。
工作距離:工作距離指從物鏡到樣品高點(diǎn)的垂直距離。
如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。
如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。
通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用
生物:種子、花粉、細(xì)菌……
醫(yī)學(xué):血球、病毒……
動物:大腸、絨毛、細(xì)胞、纖維……
材料:陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹脂……
化學(xué)、物理、地質(zhì)、冶金、礦物 、機(jī)械、電機(jī)及導(dǎo)電性樣品、電子材料等。
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作者:小攸