PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。

PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位拉伸樣品桿  基于高精度壓電拉伸操控，步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。

原位拉伸樣品桿-技術(shù)指標

原位拉伸樣品桿-產(chǎn)品選型

澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號原位拉伸樣品桿。

原位拉伸樣品桿-同內(nèi)部分用戶

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