透射電鏡原位光學(xué)樣品桿廠家-樣品桿價(jià)格
日期:2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),樣品桿內(nèi)集成光纖,桿末端可外接光源或光譜儀,實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測(cè)量或光譜學(xué)表征研究。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,同時(shí)集成光纖單元,可外接光源或光譜儀,開(kāi)展光電測(cè)量及光譜學(xué)分析,大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
原位光學(xué)樣品桿-技術(shù)指標(biāo)
電學(xué)測(cè)量 | 光纖指標(biāo) |
1.包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元; | 1.芯徑可選,外徑250um; |
2.電流測(cè)量范圍:1nA-30mA; | 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選; |
3.電流分辨率:100fA; | 3.光纖快拆接口:SMA、FC等; |
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; | 4.光源可選:4波段半導(dǎo)體激光器、波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào)氙燈光源; |
5.軟件自動(dòng)測(cè)量:I-V、I-t | 5.光譜儀:根據(jù)用戶具體需求匹配 |
Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy
doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796
Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679
原位光學(xué)樣品桿-產(chǎn)品選型
原位光學(xué)樣品桿 具有單傾、雙傾兩個(gè)版本,用戶可根據(jù)實(shí)際實(shí)驗(yàn)需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)光學(xué)樣品桿,同時(shí)保證透射電鏡原有分辨率。
原位光學(xué)樣品桿-同內(nèi)部分用戶
原位光學(xué)樣品桿-典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位光電測(cè)量實(shí)驗(yàn);
2、透射電鏡內(nèi)的陰極發(fā)光(CL)實(shí)驗(yàn);
3、透射電鏡內(nèi)的原位電致發(fā)光譜實(shí)驗(yàn)。
安徽澤攸科技有限公司是原位光學(xué)樣品桿生產(chǎn)廠家,關(guān)于原位光學(xué)樣品桿價(jià)格請(qǐng)咨詢18817557412(微信同號(hào))
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作者:澤攸科技