澤攸科技sem掃描電鏡可以做哪些分析
日期:2023-04-24
安徽澤攸科技有限公司提供的臺(tái)式掃描電鏡可以進(jìn)行多種樣品的表征和分析,包括但不限于:
微結(jié)構(gòu)表征:可以對(duì)各種金屬材料、半導(dǎo)體材料、光學(xué)器件等進(jìn)行微結(jié)構(gòu)表征,如晶體缺陷、晶界、顆粒分布等。
表面形貌分析:可以對(duì)各種表面形貌進(jìn)行分析,如凹凸、顆粒、微觀紋路等。
成分分析:可以通過(guò)能譜分析和光電子能譜分析等方法,對(duì)樣品的成分進(jìn)行分析和表征。
生物樣品表征:可以對(duì)生物樣品進(jìn)行表征和分析,如細(xì)胞、微生物、血液、組織切片等。
納米材料表征:可以對(duì)納米顆粒、納米線、納米管等納米材料進(jìn)行表征和分析。
因此,澤攸科技提供的臺(tái)式掃描電鏡不僅可以用于材料科學(xué)研究,也可以應(yīng)用于生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、環(huán)境等領(lǐng)域。如果您需要進(jìn)行SEM掃描電鏡分析,可以聯(lián)系15756003283(微信同號(hào))。
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sem掃描電鏡分析
臺(tái)式掃描電鏡
作者:澤攸科技