掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡的區(qū)別
日期:2023-04-24
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)和透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)都是電子顯微鏡的類(lèi)型,它們的主要區(qū)別在于電子束的傳輸方式和成像方式。
SEM中的電子束通過(guò)一系列電磁透鏡被聚焦到樣品表面,樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的信號(hào)被檢測(cè)和處理,形成圖像。SEM常用于表面形貌分析、元素分析等領(lǐng)域。
而TEM中的電子束通過(guò)樣品透過(guò)薄片,被聚焦到一個(gè)透明的熒光屏或攝像機(jī)上,樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的透射像被捕捉并形成圖像。TEM常用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu),如晶體結(jié)構(gòu)、生物分子等。
總的來(lái)說(shuō),SEM適用于觀察大體積樣品表面形貌和表面成分分析,TEM則適用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分分析。
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掃描電子顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡
作者:澤攸科技
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