臺(tái)式掃描電鏡分析會(huì)破壞樣品么
日期:2023-04-28
使用臺(tái)式掃描電鏡分析一般不會(huì)直接破壞樣品,但是在分析過程中可能會(huì)對(duì)樣品造成一定程度的損傷。
首先,為了保證樣品的穩(wěn)定性和電導(dǎo)率,在進(jìn)行掃描電鏡觀察前往往需要對(duì)樣品進(jìn)行處理,如鍍金、鍍碳、濺射鉑等,這些處理過程可能會(huì)對(duì)樣品表面造成一定的影響。
其次,在掃描電鏡的觀察過程中,需要在樣品表面掃描高能電子束,這些電子束可能會(huì)與樣品表面發(fā)生相互作用,導(dǎo)致電荷積累、電子發(fā)射和樣品表面化學(xué)反應(yīng)等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象可能會(huì)對(duì)樣品表面產(chǎn)生一定的影響。
此外,如果在掃描電鏡觀察時(shí),電子束能量過高或者掃描時(shí)間過長(zhǎng),也可能會(huì)對(duì)樣品造成熱損傷或氧化等影響。
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作者:澤攸科技