掃描電鏡和透射電鏡有何不同?
日期:2023-05-10
掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡,它們在工作原理、成像模式、樣品制備和應用領(lǐng)域等方面存在一些不同。
工作原理:掃描電鏡通過聚焦電子束掃描樣品表面,從而獲得樣品表面的形貌信息。透射電鏡則通過聚焦電子束穿過樣品薄片,獲得樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。
成像模式:掃描電鏡成像模式包括二次電子成像和反射電子成像,能夠獲得樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)信息。透射電鏡成像模式包括透射成像和衍射成像,能夠獲得樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。
樣品制備:掃描電鏡的樣品制備通常是將樣品表面進行金屬鍍膜或者碳膜處理,以增加樣品導電性;透射電鏡的樣品制備需要將樣品切成非常薄的薄片,通常在納米或亞納米級別。
應用領(lǐng)域:掃描電鏡主要應用于材料學、生物學、地質(zhì)學等領(lǐng)域,例如納米材料形貌、微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌、病毒等。透射電鏡則主要應用于材料學、化學、生物學等領(lǐng)域,例如金屬晶體結(jié)構(gòu)、電子衍射、細胞超微結(jié)構(gòu)等。
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作者:澤攸科技
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