在掃描電鏡（SEM）中，電荷積累和圖像失真是常見的問題。下面是一些處理樣品的方法，以避免電荷積累和圖像失真：

樣品制備：

樣品應盡可能干燥，避免含有水分。水分會導致電子束發(fā)生散射并引起電荷積累。

對于非導電樣品，可以使用導電涂層（如金或碳）覆蓋樣品表面，以提高導電性并減少電荷積累。

適當的真空條件：

確保SEM處于適當的真空條件下工作，以減少電子束與氣體分子的相互作用。

使用真空泵和減壓系統來維持恰當的真空水平。

優(yōu)化掃描參數：

選擇合適的加速電壓和探針電流，以避免電子束過強或過弱，從而減少電荷積累。

調整掃描速度和圖像積分時間，以避免過長的掃描時間造成電荷積累。

動態(tài)掃描模式：

使用動態(tài)掃描模式（如線性掃描或隨機掃描）而非靜態(tài)掃描模式，可以減少電荷積累的影響。

動態(tài)掃描模式在每個像素位置上停留的時間較短，減少了電子束在樣品表面停留的時間，從而減少電荷積累。

降低電子束能量：

對于某些樣品，尤其是具有低導電性或易受損的樣品，可以降低電子束的能量。較低的能量會減少電子束的穿透能力，降低電荷積累和圖像失真的風險。

清潔樣品表面：

在樣品放入SEM前，確保樣品表面清潔，無塵、無油和無雜質。盡量避免使用粘性膠帶等粘附物。

優(yōu)化圖像采集：

在采集圖像時，使用適當的圖像參數，如對比度、亮度和增益，以獲得清晰的圖像并降低圖像失真。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何處理掃描電鏡樣品以避免電荷積累和圖像失真。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢15756003283(微信同號)。