臺(tái)式掃描電鏡（SEM）在進(jìn)行樣品觀察之前通常需要進(jìn)行一定程度的樣品制備。樣品制備的目的是為了準(zhǔn)備樣品以適應(yīng)SEM的成像要求，并確保獲得清晰、準(zhǔn)確的圖像。以下是一些常見(jiàn)的臺(tái)式掃描電鏡樣品制備步驟：

樣品固定：對(duì)于生物樣品或柔軟的樣品，需要將其固定在支持物上，以防止在掃描過(guò)程中發(fā)生形變或移動(dòng)。固定方法可以使用化學(xué)固定劑、冷凍或冷凝固等。

剖面制備：對(duì)于固體樣品，可以使用切割、研磨或磨削等方法來(lái)制備樣品的剖面。這些方法可以揭示樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和層次。

表面平整化：樣品的表面應(yīng)盡可能平整，以避免在掃描過(guò)程中產(chǎn)生高度變化或圖像失真。使用機(jī)械研磨、拋光或化學(xué)腐蝕等方法來(lái)平整樣品表面。

金屬涂覆：為了提高電子的導(dǎo)電性和減少充電效應(yīng)，可以在樣品表面涂覆一層薄金屬，如金、鉑或碳。金屬涂覆可以通過(guò)濺射、蒸鍍或噴涂等方法實(shí)現(xiàn)。

真空處理：在將樣品放入SEM之前，通常需要進(jìn)行真空處理。真空處理可以減少氣體干擾和電子束與氣體相互作用的影響，提高圖像的質(zhì)量。

這些樣品制備步驟可能會(huì)因樣品類型、研究目的和SEM的具體要求而有所變化。重要的是根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的樣品制備方法，并確保樣品在SEM觀察之前適應(yīng)SEM的工作環(huán)境和成像要求。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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