如何準(zhǔn)備樣品進(jìn)行掃描電鏡分析
日期:2023-06-19
準(zhǔn)備樣品進(jìn)行掃描電鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)分析需要經(jīng)過一系列步驟。以下是一般的樣品準(zhǔn)備流程:
樣品選擇:選擇適合SEM分析的樣品。SEM適用于觀察固體樣品,如金屬、陶瓷、聚合物、纖維等。樣品應(yīng)具有足夠的導(dǎo)電性或經(jīng)過導(dǎo)電處理,以便在SEM中觀察。
樣品固定:根據(jù)樣品的性質(zhì)和尺寸,采用適當(dāng)?shù)墓潭ǚ椒ā?duì)于剛性樣品,可以使用環(huán)氧樹脂、膠水或夾具進(jìn)行固定。對(duì)于脆性樣品,可以使用低溫冷凍固定或化學(xué)固定。
表面處理:為了提高SEM的觀察效果,樣品的表面需要進(jìn)行處理。常見的表面處理方法包括金屬噴鍍、碳噴鍍和金屬化學(xué)腐蝕等。這些處理方法有助于減少表面電荷和增強(qiáng)導(dǎo)電性。
剪切和研磨:對(duì)于大尺寸或粗糙的樣品,可以使用切割工具、砂輪或研磨機(jī)等進(jìn)行剪切和研磨,以獲得更平坦的樣品表面。
去除污染:確保樣品表面干凈,沒有灰塵、油脂或其他污染物??梢允褂糜袡C(jī)溶劑、超聲波清洗或氣體吹掃等方法進(jìn)行清潔。
干燥:將樣品完全干燥,以避免SEM中的水蒸汽引起的散射??梢允褂米匀桓稍?、氮?dú)獯祾?、冷凍干燥或臨界點(diǎn)干燥等方法。
導(dǎo)電處理:對(duì)于非導(dǎo)電樣品,需要進(jìn)行導(dǎo)電處理以增強(qiáng)導(dǎo)電性。常用的導(dǎo)電處理方法包括金屬噴鍍、碳噴鍍或真空鍍膜等。
定位和固定:在樣品臺(tái)上準(zhǔn)確定位和固定樣品,以確保在SEM中正確觀察感興趣的區(qū)域。
SEM觀察參數(shù)設(shè)置:在進(jìn)行SEM觀察之前,根據(jù)樣品的性質(zhì)和目的,設(shè)置合適的加速電壓、工作距離、探針電流、像素大小等觀察參數(shù)。
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作者:澤攸科技