掃描電鏡（SEM）中樣品的導電性對成像參數(shù)有重要影響。SEM成像原理涉及向樣品表面發(fā)射電子束，然后測量從樣品表面反射或散射回來的電子，從而生成圖像。導電性主要影響以下幾個方面：

電荷積累和放電：對于非導電樣品，當電子束照射表面時，電荷可能會在樣品表面積累。這種電荷積累可能會導致圖像中的偽影，例如輝光或充電環(huán)。導電性較差的樣品更容易積累電荷。為了避免這種問題，通常需要對非導電樣品進行導電性處理，如涂覆導電性薄膜。

電子逸出效率：導電樣品通常能夠更有效地將從電子源發(fā)射的電子束散射回到檢測器，從而獲得更強的信號。非導電樣品可能會導致信號較弱，需要更長的曝光時間，或者圖像質(zhì)量較差。

分辨率：導電性樣品有助于獲得更高的分辨率，因為電子能更容易地穿透樣品并提供更詳細的信息。非導電樣品可能會限制分辨率，因為電子束與樣品相互作用較強。

因此，樣品的導電性在掃描電鏡成像中是一個重要因素。對于非導電樣品，通常需要采取措施來提高其導電性，以獲得更好的圖像質(zhì)量和準確的分析結(jié)果。這可以通過涂覆導電性薄膜、金屬噴霧涂層、導電粘貼劑或碳涂層等方法來實現(xiàn)。

ZEM18臺式掃描電鏡

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