臺(tái)式掃描電鏡（SEM）是一種非常有用的顯微鏡，它可以提供高分辨率的表面形貌圖像和材料的電子衍射模式。以下是它們的特點(diǎn)：

顯微圖像： SEM可以通過(guò)掃描樣品表面并記錄從電子束樣品相互作用中產(chǎn)生的二次電子、反射電子或透射電子來(lái)獲得高分辨率的表面圖像。這些顯微圖像用于觀(guān)察樣品的表面形貌、粗糙度、微結(jié)構(gòu)和表面特征。SEM的圖像通常是黑白的，但它們提供了細(xì)節(jié)和對(duì)樣品的深入了解。

電子衍射模式： SEM還可以用于獲取樣品的電子衍射模式。電子衍射是一種利用電子的波動(dòng)性質(zhì)來(lái)研究晶體結(jié)構(gòu)的技術(shù)。通過(guò)聚焦電子束，可以獲取樣品中的晶格信息，包括晶格常數(shù)和結(jié)構(gòu)定向。電子衍射圖樣通常呈環(huán)形或斑點(diǎn)狀，可以用于確定材料的晶體結(jié)構(gòu)。

這些功能使SEM成為材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)和地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的重要工具。它可以用于分析材料表面、納米顆粒、細(xì)胞結(jié)構(gòu)、金屬晶粒等等。 SEM的顯微圖像和電子衍射模式提供了獨(dú)特的信息，有助于研究人員更深入地理解各種樣品的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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