澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡大學(xué)巡展收官
日期:2023-12-22
日前,澤攸科技攜新研發(fā)的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡,先后在西南交通大學(xué)九里校區(qū)、西南交通大學(xué)犀浦校區(qū)和電子科技大學(xué)舉辦為期10天的大學(xué)校園巡展活動(dòng),向師生展示該系列產(chǎn)品的優(yōu)異性能。
本次活動(dòng)首站選在西南交通大學(xué)九里校區(qū),實(shí)驗(yàn)室內(nèi),ZEM臺(tái)式掃描電鏡的獨(dú)特性能深受廣大教職員工和學(xué)生的歡迎,在澤攸工程師的陪同和講解下,現(xiàn)場(chǎng)用戶可深入了解ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的核心性能和操作流程。從簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)對(duì)位,到觀察各類材料樣本的真實(shí)圖像;從基礎(chǔ)掃描模式到分析統(tǒng)計(jì),現(xiàn)場(chǎng)為大家營(yíng)造了輕松愜意的儀器體驗(yàn)互動(dòng)環(huán)節(jié)。
之后幾天,澤攸科技轉(zhuǎn)場(chǎng)至西南交通大學(xué)犀浦校區(qū)和電子科技大學(xué)繼續(xù)展出。兩校的教師和學(xué)生紛紛體驗(yàn)電鏡的掃描成像功能,普遍反饋該系列產(chǎn)品“操作簡(jiǎn)便、圖像清晰、分析準(zhǔn)確”,表現(xiàn)突出。除了科研應(yīng)用外,現(xiàn)場(chǎng)研究人員還就電鏡的樣品制備技術(shù)、圖像分析方法以及表面處理工藝等內(nèi)容,與澤攸工程師進(jìn)行了充分討論和經(jīng)驗(yàn)分享。
通過(guò)本次持續(xù)10天的大學(xué)校園宣傳,ZEM臺(tái)式掃描電鏡積極向廣大高校用戶匯報(bào)了國(guó)內(nèi)新科研儀器裝備的創(chuàng)新成果,澤攸科技也將在鞏固高校用戶的基礎(chǔ)上,持續(xù)推動(dòng)更多自主研發(fā)科研儀器走向市場(chǎng),造??平淌聵I(yè)。
以上就是澤攸科技小編對(duì)澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡大學(xué)巡展收官的內(nèi)容分享。
作者:澤攸科技