掃描電鏡中如何使用背散射電子增強(qiáng)樣品對(duì)比度
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，背散射電子（BSE）可以用于增強(qiáng)樣品的對(duì)比度，尤其是對(duì)不同原子序數(shù)的材料區(qū)分更為顯著。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-09
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，背散射電子（BSE）可以用于增強(qiáng)樣品的對(duì)比度，尤其是對(duì)不同原子序數(shù)的材料區(qū)分更為顯著。
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在掃描電鏡（SEM）?中進(jìn)行大面積樣品的自動(dòng)化掃描通常需要以下步驟和技術(shù)：
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在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，加速電壓對(duì)電子束的穿透深度和樣品的表面和深度信息分辨率有顯著影響。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦電流（或稱束流強(qiáng)度）對(duì)分辨率和圖像清晰度有著重要影響。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會(huì)影響圖像的質(zhì)量和分析的準(zhǔn)確性。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05
在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測(cè)器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設(shè)備之一，它通過(guò)探測(cè)從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來(lái)構(gòu)建圖像。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05
在掃描電鏡（SEM）?中，光束調(diào)制是指通過(guò)調(diào)整電子束的各種參數(shù)（如束流強(qiáng)度、掃描速度、加速電壓等）來(lái)影響成像的過(guò)程。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-04
在掃描電鏡（SEM）?中對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行高真空條件下的成像可能會(huì)遇到電荷積累問(wèn)題，這會(huì)導(dǎo)致圖像失真甚至損壞樣品。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-04