掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學、半導體工藝等領(lǐng)域的必備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質(zhì)微觀形貌進行表征。在半導體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實時檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。

ZEM18臺式掃描電鏡

澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實時檢測和剖面分析，提高半導體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定性。同時我們也可以為客戶提供完整的解決方案，包括樣品制備、測試分析和數(shù)據(jù)分析等環(huán)節(jié)，為客戶提供更加全面的服務(wù)和支持。

本期內(nèi)容，就讓我們一起來欣賞ZEM18鏡頭下的半導體世界

液晶顯示器LCD增亮膜檢測

電子元器件焊點檢測

晶圓雜質(zhì)檢測

半導體元器件檢測

以上就是安徽澤攸科技有限公司分享的攸科技將參加第三屆中國固態(tài)電池技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)化研討會。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢15756003283(微信同號)。