10月26日-30日，2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)將在東莞市會(huì)展國際大酒店召開。澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會(huì)！

本屆年會(huì)學(xué)術(shù)交流內(nèi)容包括：球差校正透射電子顯微學(xué)及應(yīng)用、原位顯微學(xué)技術(shù)（包括力學(xué)、物理、化學(xué)、生物等）及應(yīng)用、高分辨掃描電子顯微學(xué)、微束分析、掃描探針顯微學(xué)（包括STM、AFM等）、低溫電子顯微學(xué)和激光共聚焦顯微學(xué)等。會(huì)議亦包含這些技術(shù)在前沿物理科學(xué)、化學(xué)、地學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)和信息科學(xué)等學(xué)科及新能源技術(shù)、熱電材料、信息技術(shù)、環(huán)境科學(xué)與技術(shù)、先進(jìn)結(jié)構(gòu)材料等領(lǐng)域中的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用基礎(chǔ)研究成果；會(huì)議將展示顯微學(xué)相關(guān)儀器理論、技術(shù)和實(shí)驗(yàn)方法的新進(jìn)展；會(huì)議將促進(jìn)電鏡及其他顯微學(xué)儀器的共享、運(yùn)行、管理、開放共享、實(shí)驗(yàn)平臺(tái)使用、改進(jìn)與維修的交流等

參會(huì)信息

時(shí)間：10月26日~30日

地點(diǎn)：東莞市會(huì)展國際大酒店

展位：4-16

澤攸科技是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)科學(xué)儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機(jī)、臺(tái)階儀、探針臺(tái)等科學(xué)儀器，立志成為具有國際先進(jìn)水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡、JS系列臺(tái)階儀等在類的多個(gè)產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。

ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡同時(shí)兼具成像質(zhì)量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，可同時(shí)搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺(tái)，擁有多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi)，將您的透射電鏡打造成功能強(qiáng)大的納米實(shí)驗(yàn)室。

PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測試模塊集成進(jìn)掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸科技JS系列高精度臺(tái)階儀是公司自主研發(fā)的國產(chǎn)臺(tái)階儀。突破核心技術(shù)-大行程超精密平面掃描-70mm，優(yōu)于20nm/2mm；大帶寬大行程納米微動(dòng)臺(tái)-80um，10kHZ；超微壓力恒定控制，0.5mN-15mN，打破了國外壟斷的局面，是半導(dǎo)體國產(chǎn)化進(jìn)程中不可或缺的一環(huán)。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的聚焦東莞┃澤攸科技邀您共赴2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)。