澤攸科技原位TEM系統(tǒng)在澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)

安徽澤攸科技有限公司的PicoFemto系列原位透射電鏡測量系統(tǒng)一經(jīng)推出便憑借其強大的功能、極致的參數(shù)指標(biāo)和超高的穩(wěn)定性獲得國內(nèi)外用戶認可，并協(xié)助用戶在各類頂尖學(xué)術(shù)期刊上發(fā)表

九月，與澤攸科技相約在悉尼

International Microscopy Congress (IMC) 被譽為顯微鏡領(lǐng)域的奧林匹克，每四年舉辦一次。會議匯聚了一批透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微

MEMS-STM-TEM一體化樣品桿，基于STM納米操縱技術(shù)的原位解決方案。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元，結(jié)合I-V測量、光學(xué)-光電測量、低溫或者力學(xué)測量單元，在TEM中實現(xiàn)原位亞

2018年2月7日上午，銅陵市市委書記李猛一行蒞臨安徽澤攸科技有限公司慰問指導(dǎo)，并與公司首席科學(xué)家白雪冬教授親切交流。李書記參觀了公司車間、產(chǎn)品展示區(qū)和辦公區(qū)，在聽取白教

2018年澤攸科技已確認參加的展會安排如下，歡迎各位老師前來交流指導(dǎo)： 5月10日-5月13日： 2018年華東地區(qū)(電子)顯微學(xué)學(xué)術(shù)交流會，地點：福州市鼓樓區(qū) 西湖賓館。 5月10日-5月12日：