原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力,熱,光,電等),從而對材料或者器件等樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力,熱,光,電等),從而對材料或者器件等樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
光纖指標
●多模光纖外徑250um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標;
●可選光纖探針、平頭光纖;
●配備快速SMA接頭、FC接頭。
加熱指標
●溫度控制范圍:室溫至1000℃;
●溫度準確度:優(yōu)于5%;
●溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1℃。
產(chǎn)品特色
●可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加四種激勵,實現(xiàn)多種復(fù)雜的測試功能,完成以往無法實現(xiàn)的研究;
●高溫拉伸/壓縮 (加熱芯片+電學STM探針) ;
●熱電子發(fā)射/場發(fā)射 (加熱芯片+電學STM探針) ;
●三端器件測量 (電學芯片+電學STM探針) ;
●電致發(fā)光現(xiàn)象研究 (電學芯片+光學STM探針) ;
●光電現(xiàn)象研究 (電學芯片+光學STM探針) ;
●穩(wěn)定性高:輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應(yīng)用場景和樣品體系;
●很長的壽命:專利技術(shù)(專利種類:實用新型(具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿) 專利號:202020944865 .4)的“爪-球”結(jié)構(gòu)探針桿因其獨特的結(jié)構(gòu)設(shè)計,是公認皮實耐用的探針桿;
●很低維護成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材?!弊?球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護成本低;
●很大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術(shù)平臺供用戶交流;
●成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點,24小時提供技術(shù)支持。
應(yīng)用領(lǐng)域
部分國內(nèi)用戶
以上就是澤攸科技對原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)的介紹,關(guān)于整套系統(tǒng)價格請咨詢15756003283(微信同號)。