如何避免掃描電鏡樣品表面的“熱偽影”現(xiàn)象

掃描電鏡樣品表面的 "熱偽影" 現(xiàn)象通常是由于電子束的高能量導(dǎo)致的。這種現(xiàn)象可能會(huì)導(dǎo)致樣品局部升溫，影響成像和分析結(jié)果。

掃描電鏡的電子束束縛模式

掃描電鏡的電子束束縛模式，通常稱為束縛模式（或束縛控制模式），是一種操作模式，用于控制電子束的運(yùn)動(dòng)以實(shí)現(xiàn)不同的成像和分析需求。

在掃描電鏡（SEM）中，信號(hào)-噪聲比（SNR）的優(yōu)化對(duì)于獲得高質(zhì)量的圖像和可靠的數(shù)據(jù)分析至關(guān)重要。

在掃描電鏡（SEM）中，加速電壓是一個(gè)非常重要的參數(shù)，它對(duì)圖像質(zhì)量和分辨率產(chǎn)生影響。

在掃描電鏡中選擇適當(dāng)?shù)奶綔y(cè)器角度和方向?qū)τ讷@得所需的信號(hào)和信息非常重要。

要在掃描電鏡中進(jìn)行電子衍射模式的設(shè)置，您需要遵循以下步驟：

臺(tái)式掃描電鏡（SEM）通常有一些樣本大小和類型的限制，雖然這些限制因不同型號(hào)和制造商而異，但以下是一些一般性的考慮：

臺(tái)式掃描電鏡通常可以進(jìn)行元素分析和能譜測(cè)量，這通常涉及到能譜儀器的使用。