掃描電鏡的圖像偽影產(chǎn)生的原因和減少方法

在掃描電子顯微鏡（SEM）?成像過程中，偽影（artifacts）是指非原生的圖像特征，它們并不反映樣品的真實結(jié)構(gòu)或成分。

掃描電鏡中的工作距離如何影響信號收集效率

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指電子槍發(fā)射出的電子束聚焦到樣品表面之間的距離。

掃描電子顯微鏡（SEM）?是分析樣品斷裂面的強大工具，通過其高分辨率的成像能力，結(jié)合多種分析技術(shù)，能夠詳細研究斷裂機制、材料的微觀結(jié)構(gòu)以及斷裂模式。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，低導電性的樣品通常會引發(fā)一系列問題，主要是由于電子束與樣品相互作用時產(chǎn)生的電子無法有效地從樣品中逸出，導致樣品表面積累電荷。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，分析樣品表面的化學成分通常依賴于能量色散X射線光譜（EDS 或 EDX）或波長色散X射線光譜（WDS）等附加檢測器。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指樣品表面到物鏡（聚焦透鏡）的距離。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，測量顆粒的大小和分布通常需要結(jié)合圖像采集和后期圖像處理分析。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，表面粗糙度的測量可以通過以下幾種方式實現(xiàn)。