掃描電鏡樣品支撐基底為什么用硅片
日期:2023-03-15
掃描電鏡(SEM)通常使用硅片作為樣品支撐基底,因為硅片有以下幾個優(yōu)點:
導(dǎo)電性好:硅片是一種導(dǎo)電性能良好的材料,可以避免由于樣品表面電荷積聚而產(chǎn)生的干擾信號。
高穩(wěn)定性:硅片的物理性質(zhì)穩(wěn)定,尺寸精度高,不易受溫度、濕度等環(huán)境因素的影響,可以保證SEM成像的穩(wěn)定性。
平整度好:硅片表面平整度高,可以避免樣品在成像過程中出現(xiàn)的高低起伏或者其他不規(guī)則形狀的干擾信號。
顯微分辨率高:硅片表面非常光滑,可以提高SEM的顯微分辨率,讓成像效果更加清晰。
除硅片之外,其他材料,如金屬網(wǎng)格、碳膜等,也可以作為SEM的樣品支撐基底。不同的材料適用于不同類型的樣品,選擇適合的樣品支撐基底可以提高SEM成像的效果。
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作者:澤攸科技
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