掃描電鏡與光學(xué)掃描電鏡區(qū)別
日期:2023-04-25
掃描電鏡(SEM)和光學(xué)掃描電鏡(OSEM)是兩種常用于材料科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域的顯微鏡,它們有以下幾點(diǎn)區(qū)別:
原理:SEM利用電子束和樣品之間的相互作用,如樣品表面與電子束之間的反射、散射和二次電子發(fā)射等,來獲取圖像信息。而OSEM則是在SEM的基礎(chǔ)上,通過在SEM中加入透射光學(xué)系統(tǒng),使得可以同時獲得透射光學(xué)和掃描電鏡圖像。
分辨率:SEM通常具有比光學(xué)顯微鏡更高的分辨率,可以觀察到更小尺寸的細(xì)節(jié)。SEM的分辨率通常在納米級別,而光學(xué)顯微鏡的分辨率通常在微米級別。
可觀察的樣品類型:SEM適用于觀察各種類型的樣品,包括無機(jī)材料、有機(jī)材料、生物樣品等,而OSEM則主要用于生物樣品的觀察,如細(xì)胞、組織等。
采集的信號類型:SEM主要采集來自樣品表面的二次電子、反射電子、散射電子等信號,從而獲得樣品表面的形貌和組成信息。而OSEM除了可以獲得類似SEM的圖像信息外,還可以通過透射光學(xué)系統(tǒng)獲取樣品內(nèi)部的透射光學(xué)圖像。
準(zhǔn)備樣品的要求:由于SEM和OSEM都需要在真空環(huán)境下工作,因此在準(zhǔn)備樣品時需要注意樣品的導(dǎo)電性和真空兼容性。對于SEM,樣品通常需要進(jìn)行金屬涂覆或者處理成導(dǎo)電形式;而對于OSEM,樣品通常需要較薄的截面,并且需要通過特定的樣品制備方法來保持樣品的透射性。
價格和復(fù)雜性:由于OSEM需要加入透射光學(xué)系統(tǒng),因此相對于傳統(tǒng)的SEM而言,價格較高且復(fù)雜性較大。
總的來說,SEM和OSEM在原理、分辨率、樣品類型、信號類型、樣品準(zhǔn)備等方面存在一定的區(qū)別,適用于不同的應(yīng)用需求。選擇合適的顯微鏡類型應(yīng)該根據(jù)具體的研究對象和研究目的來進(jìn)行判斷和選擇。
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作者:澤攸科技