什么是掃描電鏡制樣冷臺(tái)法
日期:2023-04-25
掃描電鏡制樣冷臺(tái)法是一種用于制備樣品以進(jìn)行掃描電鏡(SEM)觀察的方法,其中樣品在制備過程中通過使用冷卻臺(tái)或冷凍介質(zhì)來保持較低的溫度,以減少電子束輻照引起的熱損傷。
掃描電鏡(SEM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),可以通過掃描樣品表面并檢測(cè)從樣品表面反射、散射或二次電子發(fā)射而得到的電子信號(hào),從而獲得高分辨率、高對(duì)比度的樣品表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)信息。
在傳統(tǒng)的SEM樣品制備方法中,常常需要對(duì)樣品進(jìn)行涂覆導(dǎo)電薄膜、離子拋光等步驟,這可能會(huì)引起樣品在制備過程中的熱損傷,導(dǎo)致樣品表面形貌和結(jié)構(gòu)信息的失真。而掃描電鏡制樣冷臺(tái)法通過使用冷卻臺(tái)或冷凍介質(zhì),將樣品的溫度降低到較低的溫度,從而減少了電子束輻照引起的熱效應(yīng),有助于保持樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)信息的完整性。
掃描電鏡制樣冷臺(tái)法的具體步驟通常包括將樣品放置在冷卻臺(tái)或冷凍介質(zhì)中,降低樣品溫度到較低的溫度,然后進(jìn)行樣品的表面處理,如離子拋光、涂覆導(dǎo)電薄膜等,之后將樣品安裝到SEM中進(jìn)行觀察和圖像獲取。不同的冷臺(tái)法制樣方法可能有不同的操作步驟和參數(shù)設(shè)置,具體的操作需要根據(jù)樣品性質(zhì)和實(shí)驗(yàn)條件進(jìn)行調(diào)整。
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作者:澤攸科技