掃描電鏡信號(hào)采集類(lèi)型
日期:2023-04-25
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)的信號(hào)采集類(lèi)型通常包括以下幾種:
二次電子(SE)信號(hào):這是SEM中常用的信號(hào)類(lèi)型。當(dāng)電子束掃描到樣品表面時(shí),樣品表面的物質(zhì)會(huì)發(fā)射出二次電子,這些電子經(jīng)由檢測(cè)器采集并轉(zhuǎn)換成圖像,用于觀察樣品的形貌和表面特征。
反射電子(BE)信號(hào):當(dāng)電子束掃描到樣品表面時(shí),部分電子會(huì)被樣品表面的物質(zhì)反射回來(lái),形成反射電子信號(hào)。反射電子信號(hào)主要用于觀察樣品的組成和晶體結(jié)構(gòu)。
散射電子(BSE)信號(hào):當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),一部分電子會(huì)被樣品內(nèi)部物質(zhì)散射出來(lái),形成散射電子信號(hào)。散射電子信號(hào)主要用于觀察樣品的組成和晶體結(jié)構(gòu),具有較強(qiáng)的深度信息。
透射電子(TE)信號(hào):在一些特定的SEM配置中,可以通過(guò)加入透射電子探測(cè)器,采集樣品內(nèi)部的透射電子信號(hào),從而獲得樣品的透射電子顯微圖像,用于觀察樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組成。
需要注意的是,不同類(lèi)型的信號(hào)在SEM中的采集方式和檢測(cè)器配置可能會(huì)有所不同,具體的信號(hào)采集方式和檢測(cè)器配置會(huì)根據(jù)SEM設(shè)備的型號(hào)、廠商以及研究目的而有所差異。
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作者:澤攸科技