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掃描電鏡對樣品大小要求

日期:2023-04-26

掃描電鏡(SEM)樣品的大小要求因所需觀察的特定特征而異,但通常樣品大小應(yīng)大于或等于數(shù)毫米,并且足夠薄以透過電子束。將樣品固定在一個具有導(dǎo)電性的基底上,例如金屬或碳涂層的載玻片。

SEM觀察需要樣品表面光滑,因此在樣品制備過程中,應(yīng)避免樣品的物理和化學(xué)處理對樣品表面造成損傷。對于高分辨率的SEM觀察,樣品的表面幾乎應(yīng)該是完全平坦的,并且不應(yīng)該有任何粗糙的紋理或凸起物。在制備SEM樣品時,還應(yīng)避免樣品表面的氧化或污染,因?yàn)檫@些都會干擾電子束的傳播并損害成像質(zhì)量。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)

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作者:澤攸科技


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