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掃描電鏡能否用于非導電樣品的觀察

日期:2023-06-15

掃描電鏡(SEM)通常用于觀察導電樣品,因為在常規(guī)的SEM操作中需要對樣品進行金屬導電涂層,以確保樣品表面電荷的平衡和電子的傳導。然而,對于非導電樣品,可以采取以下方法來進行觀察:

金屬導電涂層:對于非導電樣品,可以使用金屬導電涂層來提高樣品的導電性。常用的導電涂層材料包括金、鉑、銀等。通過在樣品表面均勻涂覆薄層的導電材料,可以改善樣品的導電性,從而使電子能夠傳導到樣品表面,實現SEM觀察。

環(huán)境SEM(Environmental SEM):環(huán)境SEM可以在相對高壓下進行觀察,利用水蒸汽或氮氣等氣體來保護非導電樣品。環(huán)境SEM在觀察生物樣品、植物組織、聚合物等非導電樣品方面具有優(yōu)勢,因為它們無需進行導電涂層。

低真空模式:某些SEM系統(tǒng)具備低真空模式,允許在較低的真空條件下觀察非導電樣品。這種模式下,可以通過調節(jié)工作壓力和控制電子束的能量來減小電子與樣品之間的相互作用,從而避免非導電樣品的電荷積聚和漂移。

樣品制備技術:對于某些非導電樣品,可以采用特殊的樣品制備技術來增加其導電性。例如,通過切割、打磨、刻蝕等方法,可以在樣品表面形成導電層或導電區(qū)域,以便進行SEM觀察。

需要注意的是,對于非導電樣品的SEM觀察,仍然存在一些挑戰(zhàn),如導電涂層的均勻性、樣品形貌的保持等。因此,在進行非導電樣品的SEM觀察時,選擇合適的方法和技術非常重要,以確保獲得準確和可靠的圖像和數據。

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作者:澤攸科技


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