掃描電鏡與透射電鏡有何區(qū)別
日期:2023-06-15
掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)是兩種常用的電子顯微鏡技術(shù),它們在工作原理、應(yīng)用范圍和圖像獲取方式上存在顯著區(qū)別。
工作原理:
SEM:SEM利用高能電子束與樣品表面進(jìn)行相互作用,產(chǎn)生二次電子、反射電子和散射電子等,通過檢測和記錄這些信號來獲取樣品表面的形貌和成分信息。
TEM:TEM通過將電子束穿過樣品,測量和記錄透射電子的強(qiáng)度和散射模式,從而獲得樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、晶體學(xué)信息以及元素成分的定量分析。
圖像獲取方式:
SEM:SEM通過掃描電子束在樣品表面的移動,逐點掃描樣品,并記錄從樣品表面反射或散射回來的電子信號,得到圖像。圖像可以呈現(xiàn)樣品的表面形貌、紋理和特征。
TEM:TEM通過將電子束透射樣品,通過透射電子的衍射或散射模式來獲得樣品內(nèi)部的顯微圖像。這些圖像可以呈現(xiàn)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、界面和缺陷等細(xì)節(jié)信息。
應(yīng)用范圍:
SEM:SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)等領(lǐng)域。它適用于觀察和表征樣品表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)、紋理、顆粒分布等,并可進(jìn)行元素成分分析。
TEM:TEM在材料科學(xué)、生物科學(xué)、納米科學(xué)等領(lǐng)域也有重要應(yīng)用。它可以提供樣品的高分辨率的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,如晶體結(jié)構(gòu)、晶格畸變、原子排列等,并可用于納米材料的形貌和尺寸分析。
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作者:澤攸科技