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掃描電鏡與傳統(tǒng)光學顯微鏡有什么區(qū)別?

日期:2023-06-20

掃描電鏡(SEM)和傳統(tǒng)光學顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準備和觀察方式等方面存在顯著的區(qū)別。

工作原理:傳統(tǒng)光學顯微鏡使用可見光或近紅外光來照明樣品,并通過透射光來觀察樣品的細節(jié)。而掃描電鏡則使用電子束來照射樣品,并測量由樣品表面產(chǎn)生的信號,例如次級電子和后向散射電子。

分辨率:光學顯微鏡的分辨率受到光的波長的限制,一般為幾百納米量級。而掃描電鏡利用電子束的波動性,具有較高的分辨率,通??梢赃_到納米級別,甚至亞納米級別。因此,掃描電鏡可以提供更高的圖像清晰度和更詳細的表面細節(jié)。

觀察模式:傳統(tǒng)光學顯微鏡是通過直接觀察透射光來獲取樣品信息,觀察過程是實時的。而掃描電鏡是通過對樣品表面進行掃描和信號檢測來獲取圖像,觀察是間接的,需要一定的時間來獲得圖像。

樣品準備:傳統(tǒng)光學顯微鏡對樣品準備的要求相對較低,通常只需將樣品放置在載玻片上即可。而掃描電鏡對樣品的準備較為復雜,通常需要對樣品進行表面涂層、真空處理或金屬化處理,以提高樣品的導電性和表面細節(jié)的清晰度。

應用領(lǐng)域:傳統(tǒng)光學顯微鏡在生物學、材料科學、藥學等領(lǐng)域具有廣泛應用,適用于對透明樣品和薄片的觀察。掃描電鏡在材料科學、納米技術(shù)、半導體工業(yè)等領(lǐng)域中得到廣泛應用,尤其適用于對非透明樣品、表面形貌和納米結(jié)構(gòu)的觀察和分析。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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作者:澤攸科技


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