掃描電鏡（SEM）的自動對焦和自動標(biāo)記功能是現(xiàn)代SEM系統(tǒng)的一部分，用于提高操作的便捷性和分析效率。

自動對焦： 自動對焦功能允許SEM系統(tǒng)自動調(diào)整焦距，以確保獲取清晰的圖像。它通過檢測電子束反射或二次電子發(fā)射的信號，并根據(jù)信號強(qiáng)度來調(diào)整電子束的位置，從而獲得適合的焦點(diǎn)。這對于在不同區(qū)域進(jìn)行高分辨率成像或處理不同高度的樣品表面特別有用。自動對焦可以提高圖像的質(zhì)量并減少操作人員的干預(yù)。

自動標(biāo)記： 自動標(biāo)記功能允許用戶在SEM圖像上添加標(biāo)記、注釋或測量點(diǎn)，而無需手動干預(yù)。這對于在圖像上標(biāo)識感興趣的特征、測量顆粒大小、距離或角度等非常有用。用戶可以在圖像上選擇位置并添加文本、線條、箭頭或其他形狀，以便后續(xù)的分析和報(bào)告。自動標(biāo)記功能可以提高工作效率，減少人為錯(cuò)誤。

ZEM18臺式掃描電鏡

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