掃描電鏡（SEM）圖像中的偽影可以由多種因素導致，其中一些主要因素包括：

充電效應： 樣品在電子束照射下可能會帶電，導致充電效應。這種充電效應會影響電子束的路徑，導致圖像中的亮度和對比度變化，形成偽影。

樣品導電性差異： 樣品中存在不同導電性的區(qū)域，如絕緣體和導電體的交界處。這種導電性差異可能導致電子束的散射或反射，產生圖像中的偽影。

樣品表面的形貌和特性： 樣品表面的形貌和特性，例如表面粗糙度、結晶結構或涂層的均勻性，都可能在圖像中產生不同的亮度和對比度，形成偽影。

電子束的角度和入射能量： 電子束的角度和入射能量也可以影響圖像中的亮度分布。不同的入射條件可能導致表面特征的強調或模糊，形成偽影。

金屬涂層： 為了提高導電性和減少充電效應，有時會在樣品表面涂覆一層金屬。然而，金屬涂層可能導致反射、散射和其他影響圖像質量的問題。

儀器校準和設置： 儀器的校準和設置可能對圖像產生影響。例如，透鏡的聚焦和檢測系統(tǒng)的參數(shù)設置可能會引入偽影。

在實際應用中，研究者通常通過調整掃描電鏡的參數(shù)、優(yōu)化樣品準備過程和采用合適的技術手段來減少或消除偽影，以獲得更準確和清晰的圖像。

ZEM20臺式掃描電鏡

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