掃描電鏡是一種利用電子束來對樣品表面進(jìn)行高分辨率成像的儀器。探針電流和探針尺寸是影響SEM成像效果的重要參數(shù)。

探針電流：

影響： 探針電流直接影響掃描電鏡中電子束的強(qiáng)度。較大的電流可以提供更多的電子，使得成像信號更強(qiáng)，但也可能導(dǎo)致樣品表面的充電效應(yīng)增加。

優(yōu)勢： 大電流下，成像信號強(qiáng)，適用于快速成像和獲取高分辨率圖像。

注意： 過大的電流可能損傷樣品，特別是對于生物樣品等較為敏感的樣品。

探針尺寸：

影響： 探針尺寸是指電子束的直徑，即聚焦后的尺寸。較小的探針尺寸可以提供更高的分辨率，但也可能導(dǎo)致成像信號減弱。

優(yōu)勢： 小探針適用于對細(xì)小結(jié)構(gòu)的高分辨率觀察。

注意： 過小的探針可能導(dǎo)致較長的成像時間，而且在非理想條件下可能導(dǎo)致成像不穩(wěn)定。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的探針電流和探針尺寸如何影響樣品表面成像。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。