掃描電鏡成像中常見(jiàn)的樣品損傷原因有哪些?
日期:2024-02-22
掃描電鏡成像中常見(jiàn)的樣品損傷原因有許多,其中一些主要原因包括:
電子束輻照損傷: 高能電子束在樣品表面與物質(zhì)相互作用時(shí)會(huì)引起輻照損傷。這種損傷會(huì)導(dǎo)致樣品表面的化學(xué)成分變化、晶體結(jié)構(gòu)的破壞和形貌的改變。
充電效應(yīng): 在掃描電鏡中,樣品表面可能會(huì)由于電子束的照射而帶電,這會(huì)產(chǎn)生靜電吸引力和排斥力,導(dǎo)致樣品表面的形貌變化和圖像失真。
樣品的熱損傷: 高能電子束的照射會(huì)引起樣品局部的加熱,導(dǎo)致樣品的結(jié)構(gòu)和形貌發(fā)生變化,甚至引起樣品的熔化或氣化。
離子束損傷: 有時(shí)在掃描電鏡成像前會(huì)使用離子束清潔樣品表面或修飾樣品結(jié)構(gòu),如果離子束能量過(guò)高或時(shí)間過(guò)長(zhǎng),可能會(huì)導(dǎo)致樣品表面的損傷和形貌的改變。
樣品制備不當(dāng): 不適當(dāng)?shù)臉悠分苽淇赡軐?dǎo)致樣品表面存在殘留物、氧化物、污染物等,這些物質(zhì)可能會(huì)影響掃描電鏡成像并導(dǎo)致樣品損傷。
機(jī)械損傷: 樣品在制備、轉(zhuǎn)移或操作過(guò)程中可能受到機(jī)械損傷,如劃痕、碎裂等,這些損傷可能會(huì)影響樣品的形貌和成像效果。
為了避免樣品損傷,在掃描電鏡成像前應(yīng)當(dāng)注意樣品制備、操作技巧和儀器參數(shù)的選擇,以減小樣品與電子束的相互作用,保護(hù)樣品的完整性和形貌。
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作者:澤攸科技