掃描電鏡（SEM）的分辨率通常比光學(xué)顯微鏡高得多，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的分辨率。其分辨率受到多種因素的影響，包括電子束的能量、焦距、探針尺寸等。一般來說，常規(guī)的SEM系統(tǒng)的分辨率在1到10納米之間，而一些先進(jìn)的高分辨率SEM系統(tǒng)甚至可以達(dá)到亞納米級別的分辨率。

以下是影響SEM分辨率的一些關(guān)鍵因素：

電子束能量：電子束的能量會影響其在樣品表面的穿透深度和散射范圍，從而影響圖像的分辨率。一般來說，較高能量的電子束能夠?qū)崿F(xiàn)更高的分辨率。

探針尺寸：探針尺寸指的是掃描電子束的直徑，較小的探針尺寸意味著更高的分辨率?，F(xiàn)代SEM系統(tǒng)通常配備了精細(xì)的探針尺寸調(diào)節(jié)功能，可以實現(xiàn)納米級別的探針尺寸。

樣品表面特性：樣品的表面特性會影響電子束與樣品的相互作用，進(jìn)而影響圖像的清晰度和分辨率。對于不同類型的樣品，可能需要調(diào)整SEM系統(tǒng)的工作參數(shù)以獲得高質(zhì)量的分辨率。

焦距：SEM系統(tǒng)的焦距也會影響分辨率，通常情況下，較長的焦距可以實現(xiàn)更高的分辨率。

探測器性能：SEM系統(tǒng)配備的探測器性能也會影響圖像的分辨率和質(zhì)量。一些先進(jìn)的探測器能夠提供更高的信噪比和更好的圖像細(xì)節(jié)。

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