三會相約┃9月6日澤攸科技攜科學(xué)儀器亮相深圳光博會、深圳電池展、北京BCEIA2023
日期:2023-09-05
9月6日,第24屆中國國際光電博覽會與2023深圳國際電池技術(shù)展覽會將在深圳舉行,BCEIA2023第二十屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會將在北京舉行,澤攸科技將攜一眾先進科學(xué)儀器,及微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案,誠邀您共赴盛會!
圖. 中國國際光電博覽會展館分布
圖. 深圳國際電池技術(shù)展覽會展館分布
圖. 北京BCEIA2023展館分布
澤攸科技是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進科學(xué)儀器公司,專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等科學(xué)儀器,立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前,公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產(chǎn)品線,在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。
ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質(zhì)量和便攜性,加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié),可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺,擁有多項自主創(chuàng)新技術(shù),滿足不同實驗及檢測需求,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。
PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi),將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。
PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測試模塊集成進掃描電鏡,大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。
澤攸科技JS系列高精度臺階儀是公司自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀。突破核心技術(shù)-大行程超精密平面掃描-70mm,優(yōu)于20nm/2mm;大帶寬大行程納米微動臺-80um,10kHZ;超微壓力恒定控制,0.5mN-15mN,打破了國外壟斷的局面,是半導(dǎo)體國產(chǎn)化進程中不可或缺的一環(huán)。
以上就是澤攸科技小編分享的三會相約┃9月6日澤攸科技攜科學(xué)儀器亮相深圳光博會、深圳電池展、北京BCEIA2023。
作者:澤攸科技