IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國(guó)釜山國(guó)際顯微學(xué)大會(huì)
日期:2023-09-08
9月10日~15日,IMC20(第20屆國(guó)際顯微學(xué)大會(huì))將在韓國(guó)釜山BEXCO會(huì)議中心召開(kāi)舉行,澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案,誠(chéng)邀您共赴盛會(huì)!
國(guó)際顯微學(xué)大會(huì)(International Microscopy Congress)是由國(guó)際顯微學(xué)聯(lián)合會(huì) (IFSM)舉辦的國(guó)際顯微學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)性會(huì)議。大會(huì)每4年召開(kāi)一次,吸引來(lái)自全球上千名學(xué)者專家參會(huì),大會(huì)同期舉辦聯(lián)合會(huì)全體大會(huì),選舉該組織新一屆領(lǐng)導(dǎo)層。第一屆大會(huì)于1954年在荷蘭德?tīng)柗蛱卣匍_(kāi)。
圖. 澤攸科技展位圖
澤攸科技是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)科學(xué)儀器公司,專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機(jī)、臺(tái)階儀、探針臺(tái)等科學(xué)儀器,立志成為具有國(guó)際先進(jìn)水平的材料表征測(cè)量?jī)x器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前,公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測(cè)量系統(tǒng)、ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡、JS系列臺(tái)階儀等在類的多個(gè)產(chǎn)品線,在國(guó)內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡同時(shí)兼具成像質(zhì)量和便攜性,加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié),可同時(shí)搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺(tái),擁有多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。
PicoFemto系列原位TEM測(cè)量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi),將您的透射電鏡打造成功能強(qiáng)大的納米實(shí)驗(yàn)室。
PicoFemto系列原位SEM測(cè)量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測(cè)試模塊集成進(jìn)掃描電鏡,大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。
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作者:澤攸科技