PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)
日期:2019-09-27
PicoFemto透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環(huán)境控制單元,從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學(xué)測量的目的。
性能指標
透射電鏡指標:
● 兼容指定電鏡型號及極靴;
● 可選雙傾版本,雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學(xué)測量指標:
● 包含一個電流電壓測試單元;
● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;
● 電流分辨率:優(yōu)于100 fA;
● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;
● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。
掃描探針操縱指標:
● 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 細調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 細調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
低溫參數(shù)指標:
● 兼容指定型號透射電鏡及極靴;
● 全溫區(qū)結(jié)構(gòu)分辨率優(yōu)于0.2 nm;
● 變溫范圍為85 K-380 K,溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.1 K。
產(chǎn)品特色
(1)溫度連續(xù)可控,穩(wěn)定性高;
(2)低溫下可實現(xiàn)對樣品施加應(yīng)力及電學(xué)研究。
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作者:小攸