掃描電鏡什么時(shí)候用到硅片
在掃描電子顯微鏡(SEM)分析中,硅片常用于以下幾種情況:
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-05-30
在掃描電子顯微鏡(SEM)分析中,硅片常用于以下幾種情況:
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對(duì)于非導(dǎo)電樣品,掃描電子顯微鏡(SEM)分析通常需要進(jìn)行導(dǎo)電處理,以防止在電子束照射下產(chǎn)生電荷積累,導(dǎo)致圖像失真或漂移。
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掃描電子顯微鏡(SEM)可以結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS或EDX)來進(jìn)行成分分析。
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測(cè)量掃描電子顯微鏡(SEM)圖像中的直徑需要一些特定的步驟和工具。
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掃描電鏡(SEM)圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離(工作距離)的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-05-24
掃描電鏡(SEM)圖像變形通??梢酝ㄟ^以下方法進(jìn)行調(diào)整:
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分析掃描電鏡(SEM)圖像中的粒徑大小通常需要借助圖像處理和分析軟件。以下是一種常見的方法:
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-05-22
掃描電鏡(SEM)通??梢杂糜趻呙栌^察微生物。雖然傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡在觀察微生物方面已經(jīng)非常成功,但是SEM提供了一種不同的方式來觀察微生物,可以提供更高的分辨率和更詳細(xì)的表面形貌信息。
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