澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡大學巡展收官

日前，澤攸科技攜新研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡，先后在西南交通大學九里校區(qū)、西南交通大學犀浦校區(qū)和電子科技大學舉辦為期10天的大學校園巡展活動，向師生展示該系列產(chǎn)品的優(yōu)異性能。

掃描電鏡如何應對非導電樣品的觀察

在掃描電鏡（SEM）中，觀察非導電樣品時會面臨電荷積聚、圖像漂移等問題。

掃描電鏡中的電子束是通過電子槍生成并經(jīng)過一系列的控制和聚焦步驟來實現(xiàn)高分辨率的成像。

掃描電鏡的放大倍數(shù)是指觀察圖像時樣品被放大的程度。

掃描電鏡是一種利用電子束來對樣品表面進行高分辨率成像的儀器。探針電流和探針尺寸是影響SEM成像效果的重要參數(shù)。

掃描電鏡是一種常用于表面形貌分析的先進顯微技術。以下是進行表面形貌分析的一般步驟：

在掃描電子顯微鏡中，電子束與樣品之間存在多種相互作用，這些相互作用產(chǎn)生的信號被用于生成樣品表面的圖像。

傳統(tǒng)的掃描電鏡成像是通過在樣品表面掃描電子束并檢測反射或二次電子而獲得的二維圖像。